影像測試相關設備 - Image Test Relative Equipment

 影像感測器晶片尺寸封裝測試分類機 - CIS/CSP Test Handler
  CRH6016 - 16 Sites,可高溫
 
特色:

1.針對光箱尺寸較小的機種
2.主要是對 CIS,CSP 產品進行測試
3.測試區共有 16 DUT
4.可以放置產品到 JEDEC Tray 及 Chip Tray(Waffle Tray)
5.有兩個手動出料盤、兩個自動出料箱,工程分類可以分八類
6.設備快速穩定,並具有多重安全保護設施
7.可以選擇性加裝高溫控制,及 AOI 檢測系統
8.人性化操作介面,設定調整與故障排除均十分簡易直覺﹙所見即所是﹚
9.提供各式統計資料,方便進行分析
10.支援單一測試與多重測試(T1 Only, T2 Only or T1+T2 test in one cycle)

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